par Vandendael, Isabelle;Steenhaut, Oscar;Hubin, Annick;Vereecken, Jean 
;Prince, P.;Reniers, François ;Segato, Tiriana
Référence Surface and interface analysis, 36, 8, page (1093-1097)
Publication Publié, 2004-08
;Prince, P.;Reniers, François ;Segato, Tiriana Référence Surface and interface analysis, 36, 8, page (1093-1097)
Publication Publié, 2004-08
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Vandendael, Isabelle; Steenhaut, Oscar; Hubin, Annick; Vereecken, Jean; Prince, P.; Reniers, François; Segato, Tiriana |
| Informations sur la publication: | Surface and interface analysis, 36, 8, page (1093-1097) |
| Statut de publication: | Publié, 2004-08 |
| Sujet CREF: | Physique de l'état condense [supraconducteur] |
| Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
| Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] | |
| Physique des surfaces | |
| Chimie | |
| Métallurgie | |
| Chimie des solides | |
| Mots-clés: | AES |
| Depth profiling | |
| Nitrided steel | |
| Steel | |
| Target factor analysis | |
| Note générale: | SCOPUS: cp.j |
| FLWIN | |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0142-2421 |
| info:doi/10.1002/sia.1848 | |
| info:scp/4444376046 |
