par Vandendael, Isabelle;Steenhaut, Oscar;Hubin, Annick;Vereecken, Jean ;Prince, P.;Reniers, François ;Segato, Tiriana
Référence Surface and interface analysis, 36, 8, page (1093-1097)
Publication Publié, 2004-08
Référence Surface and interface analysis, 36, 8, page (1093-1097)
Publication Publié, 2004-08
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Auteur: | Vandendael, Isabelle; Steenhaut, Oscar; Hubin, Annick; Vereecken, Jean; Prince, P.; Reniers, François; Segato, Tiriana |
Informations sur la publication: | Surface and interface analysis, 36, 8, page (1093-1097) |
Statut de publication: | Publié, 2004-08 |
Sujet CREF: | Physique de l'état condense [supraconducteur] |
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] | |
Physique des surfaces | |
Chimie | |
Métallurgie | |
Chimie des solides | |
Mots-clés: | AES |
Depth profiling | |
Nitrided steel | |
Steel | |
Target factor analysis | |
Note générale: | SCOPUS: cp.j |
FLWIN | |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:0142-2421 |
info:doi/10.1002/sia.1848 | |
info:scp/4444376046 |