par Malet, Loïc
;Sinclair, Chad C.W.;Jacques, Pascal J.;Godet, Stéphane 
Référence Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena, 172-174, page (84-89)
Publication Publié, 2011
;Sinclair, Chad C.W.;Jacques, Pascal J.;Godet, Stéphane 
Référence Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena, 172-174, page (84-89)
Publication Publié, 2011
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Malet, Loïc; Sinclair, Chad C.W.; Jacques, Pascal J.; Godet, Stéphane |
| Informations sur la publication: | Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena, 172-174, page (84-89) |
| Statut de publication: | Publié, 2011 |
| Sujet CREF: | Physique de l'état condense [supraconducteur] |
| Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
| Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] | |
| Métallurgie | |
| Physique de l'état solide | |
| Métallurgie et mines | |
| Astronomie | |
| Physique | |
| Mots-clés: | EBSD |
| Interaction energy | |
| Martensite | |
| PTMC | |
| Variant selection | |
| Note générale: | SCOPUS: cp.k |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:1012-0394 |
| info:doi/10.4028/www.scientific.net/SSP.172-174.84 | |
| info:scp/79960923832 |



