par Malet, Loïc
;Sinclair, Chad C.W.;Jacques, Pascal J.;Godet, Stéphane 
Référence Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena, 172-174, page (84-89)
Publication Publié, 2011


Référence Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena, 172-174, page (84-89)
Publication Publié, 2011
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Auteur: | Malet, Loïc; Sinclair, Chad C.W.; Jacques, Pascal J.; Godet, Stéphane |
Informations sur la publication: | Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena, 172-174, page (84-89) |
Statut de publication: | Publié, 2011 |
Sujet CREF: | Physique de l'état condense [supraconducteur] |
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] | |
Métallurgie | |
Physique de l'état solide | |
Métallurgie et mines | |
Astronomie | |
Physique | |
Mots-clés: | EBSD |
Interaction energy | |
Martensite | |
PTMC | |
Variant selection | |
Note générale: | SCOPUS: cp.k |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:1012-0394 |
info:doi/10.4028/www.scientific.net/SSP.172-174.84 | |
info:scp/79960923832 |