Probing electron-induced bond cleavage at the single-molecule level using DNA origami templates

;Gothelf, Kurt K.V.;Besenbacher, Flemming
Référence ACS Nano, 6, 5, page (4392-4399)
Publication Publié, 2012-05

Article révisé par les pairs

Titre:	Probing electron-induced bond cleavage at the single-molecule level using DNA origami templates
Auteur:	Keller, Adrian; Bald, Ilko; Rotaru, Alexandru; Cauet, Emilie; Gothelf, Kurt K.V.; Besenbacher, Flemming
Informations sur la publication:	ACS Nano, 6, 5, page (4392-4399)
Statut de publication:	Publié, 2012-05
Sujet CREF:	Probabilités
	Statistique mathématique
	Sciences de l'ingénieur
	Métallurgie et mines
Mots-clés:	Ab initio calculations
	Atomic force microscopy
	DNA origami
	DNA radiation damage
	Low-energy electrons
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:1936-0851
	info:doi/10.1021/nn3010747
	info:scp/84864647669
	info:pmid/22510060

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
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