par Bernier, Nicolas;Xhoffer, Chris;Van De Putte, Tom;Galceran Mestres, Montserrat 
;Godet, Stéphane
Référence Materials characterization, 86, page (116-126)
Publication Publié, 2013
;Godet, Stéphane Référence Materials characterization, 86, page (116-126)
Publication Publié, 2013
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Bernier, Nicolas; Xhoffer, Chris; Van De Putte, Tom; Galceran Mestres, Montserrat; Godet, Stéphane |
| Informations sur la publication: | Materials characterization, 86, page (116-126) |
| Statut de publication: | Publié, 2013 |
| Sujet CREF: | Physique de l'état condense [supraconducteur] |
| Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
| Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] | |
| Mécanique sectorielle | |
| Métallurgie et mines | |
| Technologie des autres industries | |
| Mots-clés: | Aluminium nitride |
| Electron energy-loss spectroscopy | |
| Grain-oriented electrical steel | |
| Precipitate | |
| Transmission electron microscopy | |
| Note générale: | SCOPUS: ar.j |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:1044-5803 |
| info:doi/10.1016/j.matchar.2013.09.014 | |
| info:pii/S1044580313002891 | |
| info:scp/84886689761 |
