Surface characterization of plasma-treated PTFE surfaces: An OES, XPS and contact angle study

Référence Surface and interface analysis, 36, 8, page (1027-1031)
Publication Publié, 2004-08

Article révisé par les pairs

Titre:	Surface characterization of plasma-treated PTFE surfaces: An OES, XPS and contact angle study
Auteur:	Vandencasteele, Nicolas; Reniers, François
Informations sur la publication:	Surface and interface analysis, 36, 8, page (1027-1031)
Statut de publication:	Publié, 2004-08
Sujet CREF:	Physique de l'état condense [supraconducteur]
	Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
	Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
	Physique des surfaces
	Chimie
	Métallurgie
	Chimie des solides
Mots-clés:	Nitrogen plasma
	PTFE
	XPS
Note générale:	SCOPUS: cp.j
	FLWIN
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0142-2421
	info:doi/10.1002/sia.1829
	info:scp/4444252192

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
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