par Vandencasteele, Nicolas ;Reniers, François
Référence Surface and interface analysis, 36, 8, page (1027-1031)
Publication Publié, 2004-08
Article révisé par les pairs
Titre:
  • Surface characterization of plasma-treated PTFE surfaces: An OES, XPS and contact angle study
Auteur:Vandencasteele, Nicolas; Reniers, François
Informations sur la publication:Surface and interface analysis, 36, 8, page (1027-1031)
Statut de publication:Publié, 2004-08
Sujet CREF:Physique de l'état condense [supraconducteur]
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
Physique des surfaces
Chimie
Métallurgie
Chimie des solides
Mots-clés:Nitrogen plasma
PTFE
XPS
Note générale:SCOPUS: cp.j
FLWIN
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0142-2421
info:doi/10.1002/sia.1829
info:scp/4444252192