par Stephenne, Nathalie 
;Wolff, Eléonore ;De Genst, William;Canters, Frank
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 5239, page (262-273)
Publication Publié, 2004
;Wolff, Eléonore ;De Genst, William;Canters, FrankRéférence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 5239, page (262-273)
Publication Publié, 2004
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Stephenne, Nathalie; Wolff, Eléonore; De Genst, William; Canters, Frank |
| Informations sur la publication: | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 5239, page (262-273) |
| Statut de publication: | Publié, 2004 |
| Sujet CREF: | Informatique appliquée logiciel |
| Mathématiques | |
| Electronique et électrotechnique | |
| Métallurgie | |
| Physique de l'état solide | |
| Physique de l'état condense [supraconducteur] | |
| Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
| Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] | |
| Mots-clés: | Aerial photographs |
| Classifications | |
| Survey | |
| Users needs | |
| Very High Resolution satellite data | |
| Note générale: | SCOPUS: cp.p |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0277-786X |
| info:doi/10.1117/12.510986 | |
| info:scp/1942438700 |
