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An XPS and SEM evaluation of six chemical and physical techniques for cleaning of contaminated titanium implants

par Mouhyi, Jaafar ;Sennerby, Lars;Pireaux, Jean-Jacques;Dourov, Nicolas ;Nammour, Samir ;Van Reck, Jack Walter
Référence Clinical oral implants research, 9, 3, page (185-194)
Publication Publié, 1998-06

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Titre:	An XPS and SEM evaluation of six chemical and physical techniques for cleaning of contaminated titanium implants
Auteur:	Mouhyi, Jaafar; Sennerby, Lars; Pireaux, Jean-Jacques; Dourov, Nicolas; Nammour, Samir; Van Reck, Jack Walter
Informations sur la publication:	Clinical oral implants research, 9, 3, page (185-194)
Statut de publication:	Publié, 1998-06
Sujet CREF:	Stomatologie - odontologie
Mots-clés:	Abrasive air cleaning
	Citric acid
	CO2 laser
	Contamination
	Titanium implants
	Ultrasonic cleaning
Note générale:	SCOPUS: ar.j
	FLWIN
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0905-7161
	info:doi/10.1034/j.1600-0501.1998.090306.x
	info:scp/0032082125
	info:pmid/10530133