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High-precision isotopic characterization of USGS reference materials by TIMS and MC-ICP-MS

par Weis, Dominique ;Kieffer, Bruno;Maerschalk, Claude Michel ;Barling, Jane ;De Jong, Jeroen ;Williams, Gwen A.;Hanano, Diane;Pretorius, Wilma;Mattielli, Nadine ;Scoates, James ;Goolaerts, Arnaud ;Friedman, R.M;Mahoney, J.B
Référence Geochemistry, geophysics, geosystems, 7, 8
Publication Publié, 2006

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Titre:	High-precision isotopic characterization of USGS reference materials by TIMS and MC-ICP-MS
Auteur:	Weis, Dominique; Kieffer, Bruno; Maerschalk, Claude Michel; Barling, Jane; De Jong, Jeroen; Williams, Gwen A.; Hanano, Diane; Pretorius, Wilma; Mattielli, Nadine; Scoates, James; Goolaerts, Arnaud; Friedman, R.M; Mahoney, J.B
Informations sur la publication:	Geochemistry, geophysics, geosystems, 7, 8
Statut de publication:	Publié, 2006
Sujet CREF:	Géochimie
Note générale:	FLWIN
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:1525-2027
	info:doi/10.1029/2006GC001283