• Citer

Pattern evolution, wavenumber selection and defect statistics in Bénard-Marangoni instability of drying liquid layers

par Chauvet, Fabien ;Dehaeck, Sam ;Colinet, Pierre
Editeur scientifique Gilbert, Thomas ;Nicolis, Grégoire
Référence European Conference on Complex Systems(XII: 2-9 septembre 2012: ULB, Bruxelles), ECCS 2012 Book of Abstracts, page (112)
Publication Publié, 2012-09

Abstract de conférence

• Détails

Titre:	Pattern evolution, wavenumber selection and defect statistics in Bénard-Marangoni instability of drying liquid layers
Auteur:	Chauvet, Fabien; Dehaeck, Sam; Colinet, Pierre
Editeur scientifique:	Gilbert, Thomas; Nicolis, Grégoire
Informations sur la publication:	European Conference on Complex Systems(XII: 2-9 septembre 2012: ULB, Bruxelles), ECCS 2012 Book of Abstracts, page (112)
Statut de publication:	Publié, 2012-09
Sujet CREF:	Sciences de l'ingénieur
Langue:	Anglais