par Malet, Loïc
;Sinclair, Chad C.W.;Jacques, Philippe;Godet, Stéphane 
Référence Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena, 172, 174, page (84-89)
Publication Publié, 2011
;Sinclair, Chad C.W.;Jacques, Philippe;Godet, Stéphane 
Référence Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena, 172, 174, page (84-89)
Publication Publié, 2011
Article révisé par les pairs
| Titre: |
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| Auteur: | Malet, Loïc; Sinclair, Chad C.W.; Jacques, Philippe; Godet, Stéphane |
| Informations sur la publication: | Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena, 172, 174, page (84-89) |
| Statut de publication: | Publié, 2011 |
| Sujet CREF: | Sciences de l'ingénieur |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:1012-0394 |



