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Effect of deposition rate on the microstructure of electron beam evaporated nanocrystalline palladium thin films

par Amin-Ahmadi, Behnam;Idrissi, H.;Galceran Mestres, Montserrat ;Colla, M.S.;Raskin, J.P.;Pardoen, T.;Godet, Stéphane ;Schryvers, Dominick
Référence Thin solid films
Publication Publié, 2013

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Titre:	Effect of deposition rate on the microstructure of electron beam evaporated nanocrystalline palladium thin films
Auteur:	Amin-Ahmadi, Behnam; Idrissi, H.; Galceran Mestres, Montserrat; Colla, M.S.; Raskin, J.P.; Pardoen, T.; Godet, Stéphane; Schryvers, Dominick
Informations sur la publication:	Thin solid films
Statut de publication:	Publié, 2013
Sujet CREF:	Sciences de l'ingénieur
Mots-clés:	Deposition rate
	Grain boundary
	Palladium
	Texture
	Thin film
	Twin boundary
Note générale:	SCOPUS: ar.j
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0040-6090
	info:doi/10.1016/j.tsf.2013.05.083
	info:pii/S0040609013008985
	info:scp/84879416199