par  Coheur, Pierre  ;Fally, Sophie
;Fally, Sophie  ;Vandaele, Ann Carine
;Vandaele, Ann Carine  ;Hermans, Christian
;Hermans, Christian  ;Jenouvrier, Alain;Carleer, Michel
;Jenouvrier, Alain;Carleer, Michel  ;Merienne, Marie France;Clerbaux, Cathy
;Merienne, Marie France;Clerbaux, Cathy  ;Colin, Réginald
;Colin, Réginald 
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, Vol. 4168, page (97-105)
Publication Publié, 2001
           ;Fally, Sophie
;Fally, Sophie  ;Vandaele, Ann Carine
;Vandaele, Ann Carine  ;Hermans, Christian
;Hermans, Christian  ;Jenouvrier, Alain;Carleer, Michel
;Jenouvrier, Alain;Carleer, Michel  ;Merienne, Marie France;Clerbaux, Cathy
;Merienne, Marie France;Clerbaux, Cathy  ;Colin, Réginald
;Colin, Réginald 
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, Vol. 4168, page (97-105)
Publication Publié, 2001
                                                                                                       
			Publication dans des actes
                                                  
        | Titre: | 
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| Auteur: | Coheur, Pierre; Fally, Sophie; Vandaele, Ann Carine; Hermans, Christian; Jenouvrier, Alain; Carleer, Michel; Merienne, Marie France; Clerbaux, Cathy; Colin, Réginald | 
| Informations sur la publication: | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, Vol. 4168, page (97-105) | 
| Statut de publication: | Publié, 2001 | 
| Sujet CREF: | Physico-chimie générale | 
| Langue: | N/A | 



