Opto-microwave experimental mapping of SiGe/Si phototransistors at 850 nm

;Schiellein, Julien ;Polleux, Jean-Luc ;Algani, Catherine ;Rumelhard, Christian
Référence International Journal of Microwave and Wireless Technologies, 1, 6, page (469-473)
Publication Publié, 2009

Article révisé par les pairs

Titre:	Opto-microwave experimental mapping of SiGe/Si phototransistors at 850 nm
Auteur:	Rosales, Marc D; Duport, Francois; Schiellein, Julien; Polleux, Jean-Luc; Algani, Catherine; Rumelhard, Christian
Informations sur la publication:	International Journal of Microwave and Wireless Technologies, 1, 6, page (469-473)
Statut de publication:	Publié, 2009
Sujet CREF:	Technologie des télécommunications [télécommunications]
	Semi-conducteurs
	Hyperfréquences
	Lumière cohérente lasers
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:1759-0787
	info:doi/10.1017/S1759078709990584
	http://journals.cambridge.org/abstract_S1759078709990584

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