par Appeltant, Lennert;Soriano, Miguel Cornelles;Van Der Sande, Guy
;Danckaert, Jan;Massar, Serge
;Dambre, Joni;Schrauwen, Benjamin;Mirasso, Claudio R;Fischer, Ingo
Référence Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE) Conference Series, Vol. 8434, page (84341)
Publication Publié, 2012-05
;Danckaert, Jan;Massar, Serge
;Dambre, Joni;Schrauwen, Benjamin;Mirasso, Claudio R;Fischer, IngoRéférence Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE) Conference Series, Vol. 8434, page (84341)
Publication Publié, 2012-05
Publication dans des actes
| Titre: |
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| Auteur: | Appeltant, Lennert; Soriano, Miguel Cornelles; Van Der Sande, Guy; Danckaert, Jan; Massar, Serge; Dambre, Joni; Schrauwen, Benjamin; Mirasso, Claudio R; Fischer, Ingo |
| Informations sur la publication: | Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE) Conference Series, Vol. 8434, page (84341) |
| Statut de publication: | Publié, 2012-05 |
| series: | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering |
| Sujet CREF: | Physique |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | info:doi/10.1117/12.922805 |
| info:scp/84862297462 |



