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Radiation damage and doping by implantation of Ti or Pd ions into TiO2 layers on Ti

par Wolff, Michel;Schultze, Joachim Walter;Delplancke, Jean-Luc ;Buchal, Ch.;Elfenthal, Lothar
Référence Journal of electroanalytical chemistry and interfacial electrochemistry, 300, 1-2, page (283-293)
Publication Publié, 1991-02

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