par Chenakin, Sergiy 
;Galstyån, G. G.;ToIstogouzow, A.B.;Kruse, Norbert
Référence Surface and interface analysis, 41, 3, page (231-237)
Publication Publié, 2009-03
;Galstyån, G. G.;ToIstogouzow, A.B.;Kruse, Norbert Référence Surface and interface analysis, 41, 3, page (231-237)
Publication Publié, 2009-03
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Chenakin, Sergiy; Galstyån, G. G.; ToIstogouzow, A.B.; Kruse, Norbert |
| Informations sur la publication: | Surface and interface analysis, 41, 3, page (231-237) |
| Statut de publication: | Publié, 2009-03 |
| Sujet CREF: | Chimie |
| Mots-clés: | Amorphous alloy |
| Annealing | |
| Segregation | |
| ToF-SIMS | |
| Valence band | |
| XPS | |
| Note générale: | SCOPUS: ar.j |
| FLWIN | |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0142-2421 |
| info:doi/10.1002/sia.3012 | |
| info:scp/62549136620 |
