Measuring electron efficiencies at CMS with early data

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Travail de recherche/Working paper

Titre:	Measuring electron efficiencies at CMS with early data
Auteur:	Daskalakis, G.; Evans, D; Hill, C.S.; Jackson, J; Vanlaer, Pascal; Berryhill, J.; Haupt, J.; Futyan, D.; Seez, C.; Timlin, C.; Wardrope, D.
Statut de publication:	Publié, 2008
series:	CMS EGM-07-001-PAS
Sujet CREF:	Physique des particules élémentaires
Langue:	Anglais

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
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