Article révisé par les pairs
Titre :
  • Curve fitting of combined comet intensity profiles: A new global concept to quantify DNA damage by the comet assay
Auteur : Dehon, Gilles ; Bogaerts, Philippe ; Duez, Pierre ; Catoire, Laurent ; Dubois, Jacques
Informations sur la publication : Chemometrics and intelligent laboratory systems, 73, 2, (page 235-243)
Statut de publication : Publié, 2004-10
Sujet CREF : Sciences de l'ingénieur
Mots-clés : Comet assay/single cell gel electrophoresis
Data modelling
DNA damage
Measurements
Statistics
Note : SCOPUS: ar.j
Langue :
  • Anglais
Identificateurs : urn:issn:0169-7439 
info:doi/10.1016/j.chemolab.2004.03.006