par Chenakin, Sergiy ;Vasylyev, M.A.;Kruse, Norbert ;Tolstogourov,
Référence Surface and interface analysis, 38, 7, page (1164-1172)
Publication Publié, 2006-03-23
Article révisé par les pairs
Titre:
  • XPS and ToF-SIMS characterization of a Finemet surface: effect of cooling
Autre titre:
  • XPS and ToF-SIMS characterization of a Finemet surface: effect of cooling:
Auteur:Chenakin, Sergiy; Vasylyev, M.A.; Kruse, Norbert; Tolstogourov,
Informations sur la publication:Surface and interface analysis, 38, 7, page (1164-1172)
Statut de publication:Publié, 2006-03-23
Sujet CREF:Chimie
Chimie des solides
Physique des surfaces
Physique de l'état solide
Mots-clés:amorphous alloy; XPS; ToF-SIMS; low temperature; segregation
Note générale:FLWIN
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0142-2421
info:doi/10.1002/sia.2377
info:scp/33748509032