par Hou, Marc Cliquez pour télécharger la liste de publications de l'auteur; Delavignette, Pierre Liste de publications; Art, A. A.
Référence Physica Status Solidi (A) Applied Research, 46, 2, (page K167-K169)
Publication Publié, 1978
Article révisé par les pairs
Titre :
  • Detection of implanted ions by X‐ray emission analysis in TEM
Auteur : Hou, Marc ; Delavignette, Pierre ; Art, A. A.
Informations sur la publication : Physica Status Solidi (A) Applied Research, 46, 2, (page K167-K169)
Statut de publication : Publié, 1978
Sujet CREF : Physique de l'état condense [supraconducteur]
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
Métallurgie
Physique de l'état solide
Note : SCOPUS: ar.j
Langue :
  • Anglais
Identificateurs : urn:issn:0031-8965 
info:doi/10.1002/pssa.2210460261