par Hou, Marc ;Delavignette, Pierre ;Art, A.
Référence Physica Status Solidi (A) Applied Research, 46, 2, page (K167-K169)
Publication Publié, 1978
Article révisé par les pairs
Titre:
  • Detection of implanted ions by X‐ray emission analysis in TEM
Auteur:Hou, Marc; Delavignette, Pierre; Art, A.
Informations sur la publication:Physica Status Solidi (A) Applied Research, 46, 2, page (K167-K169)
Statut de publication:Publié, 1978
Sujet CREF:Physique de l'état condense [supraconducteur]
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
Métallurgie
Physique de l'état solide
Note générale:SCOPUS: ar.j
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0031-8965
info:doi/10.1002/pssa.2210460261
info:scp/84987068020