par Visart de Bocarmé, Thierry 
;Bar, Thomas ;Kruse, Norbert
Référence Journées de rencontres des Jeunes Chimistes de la Société Royale de Chimie (SRC) (2: 2000-03-01->03: Borzée, Belgique)
Publication Non publié, 2000-03-01
;Bar, Thomas ;Kruse, Norbert Référence Journées de rencontres des Jeunes Chimistes de la Société Royale de Chimie (SRC) (2: 2000-03-01->03: Borzée, Belgique)
Publication Non publié, 2000-03-01
Poster de conférence
| Résumé : | Une des limitations des célèbres microscopies à sonde locale (STM, AFM, et techniques dérivées) est leur incapacité à fournir une information chimique des surfaces qu’elles mettent en image. Cette limitation s’applique aussi pour la microscopie ionique à effet de champ électrique (FIM), qui fournit à l’échelle atomique l’information structurelle et morphologique de l’extrémité d’une pointe métallique. En raison de sa taille (5 |
