par Chatrchyan, Serguei;Clerbaux, Barbara 
;De Lentdecker, Gilles ;Dero, Vincent ;Gay, Arnaud ;Hreus, Tomas ;Leonard, Alexandre ;Marage, Pierre ;Mohammadi, Abdollah ;Reis, Thomas ;Thomas, Laurent ;Vander Velde, Catherine ;Vanlaer, Pascal ;Wang, Jian ; [et al.]
Référence Physical Review Letters, 110, 14, 141802
Publication Publié, 2013
;De Lentdecker, Gilles ;Dero, Vincent ;Gay, Arnaud ;Hreus, Tomas ;Leonard, Alexandre ;Marage, Pierre ;Mohammadi, Abdollah ;Reis, Thomas ;Thomas, Laurent ;Vander Velde, Catherine ;Vanlaer, Pascal ;Wang, Jian ; [et al.]Référence Physical Review Letters, 110, 14, 141802
Publication Publié, 2013
Article révisé par les pairs
| Titre: |
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| Auteur: | Chatrchyan, Serguei; Clerbaux, Barbara; De Lentdecker, Gilles; Dero, Vincent; Gay, Arnaud; Hreus, Tomas; Leonard, Alexandre; Marage, Pierre; Mohammadi, Abdollah; Reis, Thomas; Thomas, Laurent; Vander Velde, Catherine; Vanlaer, Pascal; Wang, Jian; et al. |
| Informations sur la publication: | Physical Review Letters, 110, 14, 141802 |
| Statut de publication: | Publié, 2013 |
| Sujet CREF: | Physique des particules élémentaires |
| Mots-clés: | Branching fractions |
| CMS detectors | |
| Confidence levels | |
| Final state | |
| Integrated luminosity | |
| Narrow resonances | |
| Pair production | |
| Upper limits, Mass spectrometry | |
| Photons | |
| Tellurium compounds, Resonance,references | |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:0031-9007 |
| info:doi/10.1103/PhysRevLett.110.141802 | |
| info:scp/84876217726 |
