par Van Bogaert, Laurie;Bonatto, Daniele 
;Fachada, Sarah ;Lafruit, Gauthier
Référence IS and T International Symposium on Electronic Imaging Science and Technology, 34, 12, 269
Publication Publié, 2022-08-01
;Fachada, Sarah ;Lafruit, Gauthier Référence IS and T International Symposium on Electronic Imaging Science and Technology, 34, 12, 269
Publication Publié, 2022-08-01
Article révisé par les pairs
| Titre: |
|
| Auteur: | Van Bogaert, Laurie; Bonatto, Daniele; Fachada, Sarah; Lafruit, Gauthier |
| Informations sur la publication: | IS and T International Symposium on Electronic Imaging Science and Technology, 34, 12, 269 |
| Statut de publication: | Publié, 2022-08-01 |
| Sujet CREF: | Sciences de l'ingénieur |
| Note générale: | SCOPUS: cp.p |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:2470-1173 |
| info:doi/10.2352/EI.2022.34.12.ERVR-269 | |
| info:scp/85132366355 |
