Titre:
  • A stochastic geometry approach to EMF exposure modeling
Auteur:Gontier, Quentin; Petrillo, Luca; Rottenberg, François; Horlin, François; Wiart, Joe JW; Oestges, Claude; De Doncker, Philippe
Informations sur la publication:IEEE access, 9, page (91777 - 91787)
Statut de publication:Publié, 2021-06-23
Sujet CREF:Sciences de l'ingénieur
Mots-clés:Cellular networks
exposure
Poisson Point Process
stochastic geometry
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:2169-3536
info:doi/10.1109/ACCESS.2021.3091804