par Vander Velde, Catherine ;Vanlaer, Pascal ; [et al.]
Référence Nuclear Instruments and Methods, 543, page (463-482)
Publication Publié, 2005
Article révisé par les pairs
Titre:
  • The effect of Highly Ionizing Particles on the CMS Silicon Tracker
Auteur:Vander Velde, Catherine; Vanlaer, Pascal; et al.
Informations sur la publication:Nuclear Instruments and Methods, 543, page (463-482)
Statut de publication:Publié, 2005
Sujet CREF:Physique des particules élémentaires
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:E225373