The effect of Highly Ionizing Particles on the CMS Silicon Tracker

Recherche avancée | Historique de recherche Mon DI-fusion | À propos de DI-fusion | Contact |

; [et al.]
Référence Nuclear Instruments and Methods, 543, page (463-482)
Publication Publié, 2005

Article révisé par les pairs

Titre:	The effect of Highly Ionizing Particles on the CMS Silicon Tracker
Auteur:	Vander Velde, Catherine; Vanlaer, Pascal; et al.
Informations sur la publication:	Nuclear Instruments and Methods, 543, page (463-482)
Statut de publication:	Publié, 2005
Sujet CREF:	Physique des particules élémentaires
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0029-554X

Référencement	Visibilité	Pérennité	Facilité
Les publications encodées constituent la bibliographie académique de l'Université.	Les documents déposés sont indexés par les moteurs de recherche (Google Scholar,…).	Les documents déposés en open-access sont archivés au sein du réseau de préservation SAFE-PLN (www.safepln.org).	Les listes de publications sont compatibles avec le CV-ULB, le FNRS et accessibles sur le web.