par de Buyl, Pierre
Référence American journal of physics, 78, 12, page (1425-1429)
Publication Publié, 2010-12-01
Article révisé par les pairs
Titre:
  • A digital oscilloscope setup for the measurement of a transistor's characteristic curves
Auteur:de Buyl, Pierre
Informations sur la publication:American journal of physics, 78, 12, page (1425-1429)
Statut de publication:Publié, 2010-12-01
Sujet CREF:Semi-conducteurs
Instrumentation
Electronique générale
Physique
Mots-clés:oscilloscopes
signal detection
transistors
vocational training
Note générale:SCOPUS: ar.j
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0002-9505
info:doi/10.1119/1.3493628
info:scp/78649337994
http://link.aip.org/link/?AJP/78/1425/1