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Référence American journal of physics, 78, 12, (page 1425-1429)
Publication Publié, 2010-12-01
Article révisé par les pairs
Titre :
  • A digital oscilloscope setup for the measurement of a transistor's characteristic curves
Auteur : de Buyl, Pierre
Informations sur la publication : American journal of physics, 78, 12, (page 1425-1429)
Statut de publication : Publié, 2010-12-01
Sujet CREF : Semi-conducteurs
Instrumentation
Electronique générale
Physique
Mots-clés : oscilloscopes
signal detection
transistors
vocational training
Note : SCOPUS: ar.j
Langue :
  • Anglais
Identificateurs : urn:issn:0002-9505 
info:doi/10.1119/1.3493628
http://link.aip.org/link/?AJP/78/1425/1