• Citer

Lab-on-chip tensile stages for nanomechanical testing and TEM analysis

par Boe, A.;Coulombier, M.;Colla, M.S.;Brugger, C.;Dille, Jean ;Proost, Joris;Marechal, Raphaël ;Pardoen, Thomas;Raskin, Jean-Pierre
Référence Microelectronic engineering
Publication A Paraître, s.d.

Article révisé par les pairs

• Détails

Titre:	Lab-on-chip tensile stages for nanomechanical testing and TEM analysis
Auteur:	Boe, A.; Coulombier, M.; Colla, M.S.; Brugger, C.; Dille, Jean; Proost, Joris; Marechal, Raphaël; Pardoen, Thomas; Raskin, Jean-Pierre
Informations sur la publication:	Microelectronic engineering
Statut de publication:	A Paraître, s.d.
Sujet CREF:	Sciences de l'ingénieur
Langue:	Anglais
Identificateurs:	urn:issn:0167-9317