Titre :
  • Lab-on-chip tensile stages for nanomechanical testing and TEM analysis
Auteur : Boe, A. ; Coulombier, M. ; Colla, M.S. ; Brugger, C. ; Dille, Jean ; Proost, Joris ; Godet, Stéphane ; Pardoen, T. ; Raskin, Jean-Pierre
Informations sur la publication : Microelectronic engineering
Statut de publication : A Publier, s.d.
Sujet CREF : Sciences de l'ingénieur
Langue :
  • Anglais
Identificateurs : urn:issn:0167-9317