Titre :
  • Structural characterization of epitaxial Bi2Sr2CuO6+δ thin films deposited on SrTiO3 substrates using inverted cylindrical magnetron sputtering
Auteur : Ye, Min ; Zhang, Yinzi ; De Marneffe, Jean-François ; Delplancke, Marie-Paule ; Deltour, Robert
Informations sur la publication : Thin solid films, 377-378, (page 597-601)
Statut de publication : Publié, 2000-12
Sujet CREF : Sciences de l'ingénieur
Note : SCOPUS: ar.j
Langue :
  • Anglais
Identificateurs : urn:issn:0040-6090 
info:doi/10.1016/S0040-6090(00)01273-6