par Tam, Enrico ;Petrzhik, Mikhail M.;Shtansky, Dmitry D.;Delplancke, Marie-Paule
Référence Journal of Materials Science & Technology, 25, 1, page (63-68)
Publication Publié, 2009-01
Référence Journal of Materials Science & Technology, 25, 1, page (63-68)
Publication Publié, 2009-01
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Auteur: | Tam, Enrico; Petrzhik, Mikhail M.; Shtansky, Dmitry D.; Delplancke, Marie-Paule |
Informations sur la publication: | Journal of Materials Science & Technology, 25, 1, page (63-68) |
Statut de publication: | Publié, 2009-01 |
Sujet CREF: | Sciences de l'ingénieur |
Mots-clés: | Coatings |
Nanoindentation | |
Scanning probe microscopy | |
Thin films | |
Note générale: | SCOPUS: ar.j |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:1005-0302 |
info:scp/60949084267 |