Titre :
  • Study of the chemical bonding in tungsten carbide and chromium films by application of factor analysis on AES depth profiles
Auteur : Reniers, François ; Roose, N. ; Silberberg, Eric ; Vereecken, Jean
Informations sur la publication : Applied surface science, 99, (page 379-392)
Statut de publication : Publié, 1996
Sujet CREF : Chimie analytique
Chimie des surfaces et des interfaces
Note : SCOPUS: ar.j
Langue :
  • Anglais
Identificateurs : urn:issn:0169-4332 
info:doi/10.1016/0169-4332(96)00457-6
info:pii/S0169433296004576