par Kinnaert, Michel
Référence Proceedings, American Control Conference(24-26 juin 1998: Philadelphie, Pennsylvanie), American Automatic Control Council,, Evanston, IL., Vol. 3, page (1595-1599)
Publication Publié, 1998
Publication dans des actes
Titre:
  • Innovation generation for bilinear systems: application to robust fault detection
Auteur:Kinnaert, Michel
Informations sur la publication:Proceedings, American Control Conference(24-26 juin 1998: Philadelphie, Pennsylvanie), American Automatic Control Council,, Evanston, IL., Vol. 3, page (1595-1599)
Statut de publication:Publié, 1998
Sujet CREF:Automatique
Langue:Anglais
Identificateurs:mk-0068