par Lafruit, Gauthier 
;Munteanu, Adrian;Ceulemans, Beerend ;Carballeira, Pablo;García, Sergio;Tanimoto, Masayuki;Domański, Marek;Wegner, Krzysztof;Grajek, Tomasz;Senoh, Takanori;Jung, Joël;Kovács, Péter Tamás;Goorts, Patrik;Jorissen, Lode
Référence IS and T International Symposium on Electronic Imaging Science and Technology, Part F129972
Publication Publié, 2016-02-17
;Munteanu, Adrian;Ceulemans, Beerend ;Carballeira, Pablo;García, Sergio;Tanimoto, Masayuki;Domański, Marek;Wegner, Krzysztof;Grajek, Tomasz;Senoh, Takanori;Jung, Joël;Kovács, Péter Tamás;Goorts, Patrik;Jorissen, LodeRéférence IS and T International Symposium on Electronic Imaging Science and Technology, Part F129972
Publication Publié, 2016-02-17
Article révisé par les pairs
| Titre: |
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| Auteur: | Lafruit, Gauthier; Munteanu, Adrian; Ceulemans, Beerend; Carballeira, Pablo; García, Sergio; Tanimoto, Masayuki; Domański, Marek; Wegner, Krzysztof; Grajek, Tomasz; Senoh, Takanori; Jung, Joël; Kovács, Péter Tamás; Goorts, Patrik; Jorissen, Lode |
| Informations sur la publication: | IS and T International Symposium on Electronic Imaging Science and Technology, Part F129972 |
| Statut de publication: | Publié, 2016-02-17 |
| Sujet CREF: | Enseignement des sciences de l'ingénieur |
| Note générale: | SCOPUS: cp.p |
| SCOPUS: cp.p | |
| Langue: | Anglais |
| Identificateurs: | urn:issn:2470-1173 |
| info:doi/10.2352/ISSN.2470-1173.2016.5.SDA-426 | |
| info:scp/85026675105 |
