par Roelkens, Gunther;Dave, Utsav;Gassenq, Alban;Hattasan, Nannicha;Hu, Chen;Kuyken, Bart;Leo, François ;Malik, Aditya;Muneeb, Muhammad;Ryckeboer, Eva M.P.;Uvin, Sarah;Hens, Zeger;Baets, Roel G. F.;Shimura, Yosuke;Gencarelli, Federica;Vincent, Benjamin;Loo, Roger;Van Campenhout, Joris;Cerutti, Laurent;Rodriguez, Jean Baptiste;Tournié, Eric;Chen, Xia;Nedeljkovic, Milos;Mashanovich, Goran Z.;Shen, Li;Healy, Noel V.;Peacock, Anna C.;Liu, Xiaoping;Osgood, Richard M J R.M.;Green, W
Référence Optical Materials Express, 3, 9, page (1523-1536)
Publication Publié, 2013
Référence Optical Materials Express, 3, 9, page (1523-1536)
Publication Publié, 2013
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Auteur: | Roelkens, Gunther; Dave, Utsav; Gassenq, Alban; Hattasan, Nannicha; Hu, Chen; Kuyken, Bart; Leo, François; Malik, Aditya; Muneeb, Muhammad; Ryckeboer, Eva M.P.; Uvin, Sarah; Hens, Zeger; Baets, Roel G. F.; Shimura, Yosuke; Gencarelli, Federica; Vincent, Benjamin; Loo, Roger; Van Campenhout, Joris; Cerutti, Laurent; Rodriguez, Jean Baptiste; Tournié, Eric; Chen, Xia; Nedeljkovic, Milos; Mashanovich, Goran Z.; Shen, Li; Healy, Noel V.; Peacock, Anna C.; Liu, Xiaoping; Osgood, Richard M J R.M.; Green, W |
Informations sur la publication: | Optical Materials Express, 3, 9, page (1523-1536) |
Statut de publication: | Publié, 2013 |
Sujet CREF: | Sciences de l'ingénieur |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:2159-3930 |
info:doi/10.1364/OME.3.001523 | |
info:scp/84884197546 |