Titre:
  • Characterisation of irradiated thin silicon sensors for the CMS phase II pixel upgrade
Auteur:Adam, Wolfgang; Beghin, Diego; Brun, Hugues; Clerbaux, Barbara; Delannoy, Hugo; De Lentdecker, Gilles; Fasanella, Giuseppe; Favart, Laurent; Goldouzian, Reza; Grebenyuk, Anastasia; Karapostoli, Georgia; Lenzi, Thomas; Leonard, Alexandre; Luetic, Jelena; Postiau, Nicolas; Seva, Tomislav; Vanlaer, Pascal; Vannerom, David; Wang, Qun; Zhang, Fengwangdong; et al.
Informations sur la publication:European Physical Journal C. Particles and Fields, 77, 8, 567
Statut de publication:Publié, 2017
Sujet CREF:Physique des particules élémentaires
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:1434-6044
info:doi/10.1140/epjc/s10052-017-5115-z