par Roche, Gilles H;Wantz, Guillaume;Dautel, Olivier;Thuau, Damien;Valvin, PIerre;Clevers, Simon ;Tjoutis, Thomas;Chambon, Sylvain;Flot, David;Geerts, Yves ;Moreau, Joel J.E.
Référence Advanced Electronic Materials, 3, 9, 1700218
Publication Publié, 2017
Référence Advanced Electronic Materials, 3, 9, 1700218
Publication Publié, 2017
Article révisé par les pairs
Titre: |
|
Auteur: | Roche, Gilles H; Wantz, Guillaume; Dautel, Olivier; Thuau, Damien; Valvin, PIerre; Clevers, Simon; Tjoutis, Thomas; Chambon, Sylvain; Flot, David; Geerts, Yves; Moreau, Joel J.E. |
Informations sur la publication: | Advanced Electronic Materials, 3, 9, 1700218 |
Statut de publication: | Publié, 2017 |
Sujet CREF: | Généralités |
Mots-clés: | field-effect transistors |
hybrid materials | |
nanostructures | |
organosilica | |
thin films | |
Note générale: | SCOPUS: ar.j |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:2199-160X |
info:doi/10.1002/aelm.201700218 | |
info:scp/85022341527 |