par Barroo, Cédric ;Akey, Austin J;Bell, David C
Référence Microscopy and microanalysis, 23, page (708-709), 10.1017/S1431927617004202
Publication Publié, 2017-08-04
Article révisé par les pairs
Titre:
  • Nanoscale Investigation of Belgian Chocolate by Atom Probe Tomography
Auteur:Barroo, Cédric; Akey, Austin J; Bell, David C
Informations sur la publication:Microscopy and microanalysis, 23, page (708-709), 10.1017/S1431927617004202
Statut de publication:Publié, 2017-08-04
Sujet CREF:Chimie des surfaces et des interfaces
Physique des surfaces
Physique appliquée des surfaces
Langue:Français
Identificateurs:urn:issn:1431-9276