par Barroo, Cédric ;Akey, Austin J;Bell, David C
Référence Microscopy & Microanalysis 2017 (2017-08-06 - 2017-08-10: St Louis, MI)
Publication Non publié, 2017-08-04
Poster de conférence
Titre:
  • Nanoscale Investigation of Belgian Chocolate by Atom Probe Tomography
Auteur:Barroo, Cédric; Akey, Austin J; Bell, David C
Informations sur la publication:Microscopy & Microanalysis 2017 (2017-08-06 - 2017-08-10: St Louis, MI)
Statut de publication:Non publié, 2017-08-04
Sujet CREF:Physique des surfaces
Physique appliquée des surfaces
Chimie des surfaces et des interfaces
Langue:Français