Titre :
  • Nanoscale Investigation of Belgian Chocolate by Atom Probe Tomography
Auteur : Barroo, Cédric ; Akey, Austin J ; Bell, David C
Statut de publication : Non publié, 2017-08-04
Sujet CREF : Physique des surfaces
Physique appliquée des surfaces
Chimie des surfaces et des interfaces
Informations sur la conférence :
  • Microscopy & Microanalysis 2017 (2017-08-06 - 2017-08-10: St Louis, MI)
Langue :
  • Français