Titre :
  • Size dependent fracture strength and cracking mechanisms in freestanding polycrystalline silicon films with nanoscale thickness
Auteur : Vayrette, Renaud R. ; Galceran Mestres, Montserrat ; Coulombier, Michael M. ; Godet, Stéphane ; Raskin, Jean-Pierre ; Pardoen, Thomas
Informations sur la publication : Engineering fracture mechanics, 168, (page 190-203)
Statut de publication : Publié, 2016-12
Sujet CREF : Mécanique sectorielle
Métallurgie et mines
Technologie des autres industries
Mots-clés : Fracture mechanisms
Polycrystalline silicon
Size effect
Tensile test
Thin film
Note : SCOPUS: ar.j
Langue :
  • Anglais
Identificateurs : urn:issn:0013-7944 
info:doi/10.1016/j.engfracmech.2016.10.003
info:pii/S0013794416304544