par Bary, Abdouraman;Nouet, Gérard;Delavignette, Pierre
Référence Journal of microscopy, 158, 3, page (403-414)
Publication Publié, 1990
Article révisé par les pairs
Titre:
  • TEM analysis of near‐coincidence grain boundaries in silicon
Auteur:Bary, Abdouraman; Nouet, Gérard; Delavignette, Pierre
Informations sur la publication:Journal of microscopy, 158, 3, page (403-414)
Statut de publication:Publié, 1990
Sujet CREF:Histologie
Pathologie générale
Médecine légale
Mots-clés:Coincidence grain boundaries
Kikuchi pattern
secondary dislocations
silicon
transmission electron microscopy
Note générale:SCOPUS: ar.j
FLWNA
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0022-2720
info:doi/10.1111/j.1365-2818.1990.tb03011.x
info:scp/0024995869