par Maggioni, Federica Lidia Teresa; Oprins, Herman; Milojevic, Dragomir Liste de publications; Beyne, Eric; Wolf, Ingrid De; Baelmans, Martine
Référence Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, 2015-April, 7100148, (page 107-112)
Publication Publié, 2015-04
Article révisé par les pairs
Titre :
  • 3D-convolution based fast transient thermal model for 3D integrated circuits: Methodology and applications
Auteur : Maggioni, Federica Lidia Teresa ; Oprins, Herman ; Milojevic, Dragomir ; Beyne, Eric ; Wolf, Ingrid De ; Baelmans, Martine
Informations sur la publication : Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, 2015-April, 7100148, (page 107-112)
Statut de publication : Publié, 2015-04
Sujet CREF : Electronique et électrotechnique
Instrumentation et méthodes en physique
Mots-clés : 3Dconvolution
fast Fourier transform
fast thermal model
Green's function
Thermal analysis
transient
Note : SCOPUS: cp.p
Langue :
  • Anglais
Identificateurs : urn:issn:1065-2221 
info:doi/10.1109/SEMI-THERM.2015.7100148