Titre:
  • New approaches to nanoparticle sample fabrication for atom probe tomography
Auteur:Felfer, Peter; Cairney, Julie; Liu, Fu-Tong; Eder, K; Galinski, Henning; Magyar, Andrew A.P.; Bell, David D.C.; Smith, George D.W.; Kruse, Norbert; Ringer, Simon
Informations sur la publication:Ultramicroscopy, 159, page (413-419)
Statut de publication:Publié, 2015-12
Sujet CREF:Métallurgie
Physique de l'état solide
Optique
Physique atomique et moléculaire
Instrumentation et méthodes en physique
Mots-clés:Atom probe tomography
Focussed ion beam
Nanoparticles
Sample preparation
Note générale:SCOPUS: ar.j
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0304-3991
info:doi/10.1016/j.ultramic.2015.04.014
info:pii/S0304399115000984
info:scp/84949530894