Titre :
  • New approaches to nanoparticle sample fabrication for atom probe tomography
Auteur : Felfer, Peter P. ; Cairney, Julie J. ; Liu, Fu-Tong ; Eder, K ; Galinski, Henning H. ; Magyar, Andrew A.P. ; Bell, David D.C. ; Smith, George D.W. ; Kruse, Norbert ; Ringer, Simon S.
Informations sur la publication : Ultramicroscopy, 159, (page 413-419)
Statut de publication : Publié, 2015-12
Sujet CREF : Métallurgie
Physique de l'état solide
Optique
Physique atomique et moléculaire
Instrumentation et méthodes en physique
Mots-clés : Atom probe tomography
Focussed ion beam
Nanoparticles
Sample preparation
Note : SCOPUS: ar.j
Langue :
  • Anglais
Identificateurs : urn:issn:0304-3991 
info:doi/10.1016/j.ultramic.2015.04.014
info:pii/S0304399115000984