par Felfer, Peter;Cairney, Julie;Liu, Fu-Tong;Eder, K;Galinski, Henning;Magyar, Andrew A.P.;Bell, David C;Smith, George D.W.;Kruse, Norbert ;Ringer, Simon
Référence Ultramicroscopy, 159, page (413-419)
Publication Publié, 2015-12
Référence Ultramicroscopy, 159, page (413-419)
Publication Publié, 2015-12
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Auteur: | Felfer, Peter; Cairney, Julie; Liu, Fu-Tong; Eder, K; Galinski, Henning; Magyar, Andrew A.P.; Bell, David C; Smith, George D.W.; Kruse, Norbert; Ringer, Simon |
Informations sur la publication: | Ultramicroscopy, 159, page (413-419) |
Statut de publication: | Publié, 2015-12 |
Sujet CREF: | Métallurgie |
Physique de l'état solide | |
Optique | |
Physique atomique et moléculaire | |
Instrumentation et méthodes en physique | |
Mots-clés: | Atom probe tomography |
Focussed ion beam | |
Nanoparticles | |
Sample preparation | |
Note générale: | SCOPUS: ar.j |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:0304-3991 |
info:doi/10.1016/j.ultramic.2015.04.014 | |
info:pii/S0304399115000984 | |
info:scp/84949530894 |