par Ebbeni, Jean-Pierre Cliquez pour télécharger la liste de publications de l'auteur
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 952, (page 66-82)
Publication Publié, 1989
Article révisé par les pairs
Titre :
  • Overview of optical methods in metrology
Auteur : Ebbeni, Jean-Pierre
Informations sur la publication : Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 952, (page 66-82)
Statut de publication : Publié, 1989
Sujet CREF : Informatique appliquée logiciel
Mathématiques
Electronique et électrotechnique
Métallurgie
Physique de l'état solide
Physique de l'état condense [supraconducteur]
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
Note : SCOPUS: cp.p
Langue :
  • Anglais
Identificateurs : urn:issn:0277-786X 
info:doi/10.1117/12.968814