par Adam, Wolfgang;Bouhali, Othmane ;Clerbaux, Barbara ;De Lentdecker, Gilles ;Dewulf, Jean-Paul ;Neuckermans, L.;Vander Velde, Catherine ;Vanlaer, Pascal ;Wickens, J.; [et al.]
Référence Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 543, 2-3, page (463-482)
Publication Publié, 2005-05
Article révisé par les pairs
Titre:
  • The effect of highly ionising particles on the CMS silicon strip tracker
Auteur:Adam, Wolfgang; Bouhali, Othmane; Clerbaux, Barbara; De Lentdecker, Gilles; Dewulf, Jean-Paul; Neuckermans, L.; Vander Velde, Catherine; Vanlaer, Pascal; Wickens, J.; et al.
Informations sur la publication:Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 543, 2-3, page (463-482)
Statut de publication:Publié, 2005-05
Sujet CREF:Physique des particules élémentaires
Mots-clés:APV25
CMS
Highly ionising particles
Silicon strip tracker
Note générale:SCOPUS: ar.j
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0168-9002
info:doi/10.1016/j.nima.2004.11.049
info:pii/S0168900205000288
info:scp/20244373770