Titre:
  • Surface Analysis and Ultra-Shallow Molecular Depth-Profiling of Polyethylene Treated by an Atmospheric Ar-D2O Post-Discharge
Auteur:Cristaudo, Vanina; Collette, Stephanie; Poleunis, Claude; Reniers, François; Delcorte, Arnaud
Informations sur la publication:Plasma processes and polymers, 12, 9, page (919-925)
Statut de publication:Publié, 2015-09
Sujet CREF:Physique de l'état condense [supraconducteur]
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
Métallurgie
Mots-clés:atmospheric Ar-D2O post-discharges
deuteration
GCIB
LDPE films
ToF-SIMS molecular depth-profiling
Note générale:SCOPUS: ar.j
FLWIN
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:1612-8850
info:doi/10.1002/ppap.201400248
info:scp/84941997227