par Afsar, Mohammed Nurul;Kestemont, Edouard ;Van Loon, Ronald ;Goulon, José;Rivail, Jean Louis;Mandel, Michel ;GÖttman, O.;Kaatze, Udo;Pottel, Reinhard;Kilp, H.;Birch, James J.R.;Chantry, George William;Clarke, Robert Norman;Cook, Raymond R.J.;Jones, Ron Gareth;Rosenberg, Christopher Barry;Bellemans, André ;Finsy, Robert
Référence IEEE transactions on instrumentation and measurement, 29, 4, page (283-288)
Publication Publié, 1980
Référence IEEE transactions on instrumentation and measurement, 29, 4, page (283-288)
Publication Publié, 1980
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Auteur: | Afsar, Mohammed Nurul; Kestemont, Edouard; Van Loon, Ronald; Goulon, José; Rivail, Jean Louis; Mandel, Michel; GÖttman, O.; Kaatze, Udo; Pottel, Reinhard; Kilp, H.; Birch, James J.R.; Chantry, George William; Clarke, Robert Norman; Cook, Raymond R.J.; Jones, Ron Gareth; Rosenberg, Christopher Barry; Bellemans, André; Finsy, Robert |
Informations sur la publication: | IEEE transactions on instrumentation and measurement, 29, 4, page (283-288) |
Statut de publication: | Publié, 1980 |
Sujet CREF: | Electronique et électrotechnique |
Instrumentation et méthodes en physique | |
Note générale: | SCOPUS: ar.j |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:0018-9456 |
info:doi/10.1109/TIM.1980.4314935 | |
info:scp/0019269441 |