par Charlier, Jacques
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 349, page (2-21)
Publication Publié, 1982
Article révisé par les pairs
Titre:
  • LIMITS OF NONDESTRUCTIVE TESTING BY IONIZING RADIATION.
Auteur:Charlier, Jacques
Informations sur la publication:Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 349, page (2-21)
Statut de publication:Publié, 1982
Sujet CREF:Informatique appliquée logiciel
Mathématiques
Electronique et électrotechnique
Métallurgie
Physique de l'état solide
Physique de l'état condense [supraconducteur]
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
Note générale:SCOPUS: cp.p
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0277-786X
info:scp/0020218327