par Tran, Duc Toan D.T.; Jansen, Bart; Deklerck, Rudi; Debeir, Olivier Liste de publications
Référence Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 9445, 94450Y
Publication Publié, 2015
Article révisé par les pairs
Titre :
  • An approach for combining multiple descriptors for image classification
Auteur : Tran, Duc Toan D.T. ; Jansen, Bart ; Deklerck, Rudi ; Debeir, Olivier
Informations sur la publication : Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 9445, 94450Y
Statut de publication : Publié, 2015
Sujet CREF : Informatique appliquée logiciel
Mathématiques
Electronique et électrotechnique
Métallurgie
Physique de l'état solide
Physique de l'état condense [supraconducteur]
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.]
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.]
Mots-clés : feature combination
Image classification
Naive-Bayes Nearest-Neighbor
NIMBLE
SIFT
SURF
Note : SCOPUS: cp.p
Langue :
  • Anglais
Identificateurs : urn:issn:0277-786X 
info:doi/10.1117/12.2181017