par Vandenrijt, Jean-François;Thizy, Cédric;Stockman, Yvan ;Queeckers, Patrick ;Dubois, Frank ;Doyle, Dominic;Georges, Marc
Référence 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology, Fringe 2013, Springer-Verlag, page (921-924)
Publication Publié, 2014
Référence 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology, Fringe 2013, Springer-Verlag, page (921-924)
Publication Publié, 2014
Publication dans des actes
Titre: |
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Auteur: | Vandenrijt, Jean-François; Thizy, Cédric; Stockman, Yvan; Queeckers, Patrick; Dubois, Frank; Doyle, Dominic; Georges, Marc |
Informations sur la publication: | 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology, Fringe 2013, Springer-Verlag, page (921-924) |
Statut de publication: | Publié, 2014 |
Sujet CREF: | Sciences de l'ingénieur |
Optique | |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:isbn:978-364236358-0 |