par Prakash, Jai ;Tripathi, Jalaj;Tripathi, Ambuj;Asokan, Kandasami;Gautam, Sanjeev;Chae, Keun Hwa;Song, Jonghan;Rigato, Valentino
Référence Materials chemistry and physics, 147, 3, page (920-924)
Publication Publié, 2014-10
Référence Materials chemistry and physics, 147, 3, page (920-924)
Publication Publié, 2014-10
Article révisé par les pairs
Titre: |
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Auteur: | Prakash, Jai; Tripathi, Jalaj; Tripathi, Ambuj; Asokan, Kandasami; Gautam, Sanjeev; Chae, Keun Hwa; Song, Jonghan; Rigato, Valentino |
Informations sur la publication: | Materials chemistry and physics, 147, 3, page (920-924) |
Statut de publication: | Publié, 2014-10 |
Sujet CREF: | Physique de l'état condense [supraconducteur] |
Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] | |
Physique de l'état condense [struct., électronique, etc.] | |
Métallurgie et mines | |
Mots-clés: | Electron microscopy (SEM and TEM) |
Interface | |
Irradiation effects | |
Nanostructures | |
Thermodynamic properties | |
Thin films | |
Note générale: | SCOPUS: ar.j |
Langue: | Anglais |
Identificateurs: | urn:issn:0254-0584 |
info:doi/10.1016/j.matchemphys.2014.06.038 | |
info:pii/S0254058414003897 | |
info:scp/84905716405 |