par Mainali, P.;Lafruit, Gauthier ;Yang, Q.;Geelen, B.;Van Gool, Luc L.;Lauwereins, Rudy
Référence International journal of computer vision, 104, 2, page (172-197)
Publication Publié, 2013
Article révisé par les pairs
Titre:
  • SIFER: Scale-Invariant Feature Detector with Error Resilience
Auteur:Mainali, P.; Lafruit, Gauthier; Yang, Q.; Geelen, B.; Van Gool, Luc L.; Lauwereins, Rudy
Informations sur la publication:International journal of computer vision, 104, 2, page (172-197)
Statut de publication:Publié, 2013
Sujet CREF:Sciences de l'ingénieur
Langue:Anglais
Identificateurs:urn:issn:0920-5691